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TWIN/TWIN 光路
动态光束优化(DBO)
LYNXEYE XE-T
应用:
物相定性分析、结晶度及非晶相含量分析、结构精修及解析、物相定量分析、
点阵参数精确测量，无标样定量分析，微观应变分析，晶粒尺寸分析，原位分析。
残余应力，低角度介孔材料测量，织构及ODF分析，薄膜掠入射，薄膜反射率测量。小角散射。
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D8 ADVANCE X射线行(xing)射仪，采用(yong)创造性(xing)的(de)达芬奇设(she)计(ji)，通过TWIN-TWIN光路设(she)计(ji)，成功实(shi)现了(le)BB聚焦几何下(xia)的(de)定性(xing)定量分析和平行(xing)光几何下(xia)的(de)薄(bo)膜掠入射GID分析、薄(bo)膜反射率XRR分析的(de)全自动切换(huan)，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用(yong)户可以在1分钟内完成从(cong)线光源(yuan)应(ying)(ying)用(yong)到点光源(yuan)应(ying)(ying)用(yong)的(de)切换(huan)，让烦人的(de)光路互(hu)换(huan)，重新(xin)对光等(deng)问题从(cong)此成为历史
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动态光束优化(DBO)
LYNXEYE XE-T
应用:
物(wu)相(xiang)(xiang)定(ding)性分析(xi)(xi)、结晶度(du)及(ji)非晶相(xiang)(xiang)含量(liang)分析(xi)(xi)、结构精修及(ji)解析(xi)(xi)、物(wu)相(xiang)(xiang)定(ding)量(liang)分析(xi)(xi)、
点阵参数精确(que)测量，无(wu)标样定(ding)量分(fen)析，微观(guan)应变分(fen)析，晶粒尺寸(cun)分(fen)析，原位分(fen)析。
残余应(ying)力，低(di)角度介(jie)孔材料(liao)测量，织构及(ji)ODF分析，薄膜(mo)掠入射(she)，薄膜(mo)反射(she)率测量。小角散(san)射(she)。
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物相定性分析、结晶度及非晶相含量分析、结构精修及解析、物相定量分析、
点阵参数精确测量，无标样定量分析，微观应变分析，晶粒尺寸分析，原位分析。
残余应力，低角度介孔材料测量，织构及ODF分析，薄膜掠入射，薄膜反射率测量。小角散射。
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动态光束优(you)化(hua)(DBO)
LYNXEYE XE-T
应用:
物(wu)相定性分(fen)析、结晶度及非晶相含量分(fen)析、结构精修及解(jie)析、物(wu)相定量分(fen)析、
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