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Dimension Icon/AFM/原子力显微镜

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用途:用于获取材料表面的纳米级三维形貌结构，纳米力学，纳米电学性能等
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用途:用于获(huo)取材料表面的纳米(mi)级三维形貌结构，纳米(mi)力(li)学，纳米(mi)电(dian)学性能(neng)等


型号:Dimension Icon、Dimension Edg、Dimension Edge PSS等(deng)


基本参数:

●垂(chui)直(zhi)方向分(fen)辨率:<0.1 nm

●水平方(fang)向(xiang)分(fen)辨(bian)率:<1nm

●Z方向扫描(miao)范(fan)围:<10 um

●XY方(fang)向(xiang)扫描范围(wei):90um X 90um(典(dian)型值)

●样品(pin)台尺寸(cun):210 mm


功能模块:

●Peak force tapping:峰值(zhi)力轻(qing)敲模(mo)式

● Peak force Tuna:表征(zheng)纳米电学

● Peak force QNM:表征纳米力(li)学

●Peak force SECM:表征纳米电化学(xue)

●Peak force KPFM:表(biao)征纳米(mi)表(biao)面电势(shi)


技术优势:

●最先进的XYZ全探(tan)针(zhen)扫描方式和(he)全自动大样品台

●独有(you)的Peak froce Tapping专利技术和智能(neng)扫(sao)描模(mo)式(ScanAsyst)

●最完整的力学、电学、电化(hua)学测试功能和(he)最灵活(huo)的拓(tuo)展(zhan)性


Dimension Icon/AFM/原子力显微镜
用途:用于获取材料表面的纳米级三维形貌结构，纳米力学，纳米电学性能等
0592-5663715
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用途:用于获取(qu)材料表面的纳米(mi)级三维形貌结(jie)构，纳米(mi)力学(xue)，纳米(mi)电学(xue)性能等(deng)


型号:Dimension Icon、Dimension Edg、Dimension Edge PSS等


基本参数:

●垂直(zhi)方向分辨率:<0.1 nm

●水(shui)平方向分辨率:<1nm

●Z方(fang)向扫描范(fan)围:<10 um

●XY方向扫(sao)描范围:90um X 90um(典型值)

●样品台尺寸(cun):210 mm


功能模块:

●Peak force tapping:峰(feng)值力(li)轻敲模式(shi)

● Peak force Tuna:表征纳(na)米电学

● Peak force QNM:表征(zheng)纳米力学

●Peak force SECM:表征纳米(mi)电化学

●Peak force KPFM:表(biao)征(zheng)纳米表(biao)面(mian)电势


技术优势:

●最(zui)先进的XYZ全(quan)(quan)探针扫描方式和全(quan)(quan)自动(dong)大样品台(tai)

●独有的Peak froce Tapping专利技术和智(zhi)能扫(sao)描模式(ScanAsyst)

●最完整的力学、电(dian)学、电(dian)化学测试功能(neng)和最灵活的拓展性


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