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C测试仪 3504

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●测量参数:Cs,Cp(电容),D(损耗系数tans)

●测量范围:C:0.9400 pF~20.0000 mF D:0.00001~1.99000

●基本精度:(代表值)C:+0.09% rdg.±10 dgt,D:±0.0016

测定精度=基本精度xBxCxDxE,B~E为各系数

●测量频率:120 Hz, kHz

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●测量参数:Cs,Cp(电容),D(损(sun)耗(hao)系数tans)

●测量范(fan)围(wei):C:0.9400 pF~20.0000 mF D:0.00001~1.99000

●基本精度:(代表(biao)值)C:+0.09% rdg.±10 dgt,D:±0.0016

  测定精(jing)度(du)=基本精(jing)度(du)xBxCxDxE,B~E为各(ge)系数

●测(ce)量频率:120 Hz, kHz


C测试仪 3504

●测量参数:Cs,Cp(电容),D(损耗系数tans)

●测量范围:C:0.9400 pF~20.0000 mF D:0.00001~1.99000

●基本精度:(代表值)C:+0.09% rdg.±10 dgt,D:±0.0016

测定精度=基本精度xBxCxDxE,B~E为各系数

●测量频率:120 Hz, kHz

0592-5663715
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●测量参数:Cs,Cp(电容),D(损耗系(xi)数tans)

●测量范(fan)围:C:0.9400 pF~20.0000 mF D:0.00001~1.99000

●基本精度:(代(dai)表值)C:+0.09% rdg.±10 dgt,D:±0.0016

  测定精(jing)度(du)=基(ji)本精(jing)度(du)xBxCxDxE,B~E为各系数

●测量(liang)频率:120 Hz, kHz


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