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TH500系列 功率半导体器件PIV测试系统

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– 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量,满足准等温
测试条件。
– 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算。
– 脉宽*小低至200ns。
– 具有内部和外部同步能力。
– 脉冲时序设置和时域波形记录。
– 仪器设备可与socket&半自动探针台互联,进行封装以及晶
圆级芯片测试。
在线客服
产品详(xiang)情

– 提供固定静态偏置点进行窄(zhai)脉冲(chong)动态IV测量,满足(zu)准等温

  测(ce)试条件。

– 实现器件寄生(sheng)效应的量化测量与数据运算(suan)。

– 脉宽*小低至200ns。

– 具有内部和外部同步(bu)能力。

– 脉冲(chong)时序设置和时域波形(xing)记录。

– 仪(yi)器设备可与socket&半自动探针(zhen)台互联,进行封装以(yi)及晶(jing)

圆级(ji)芯(xin)片测试。


TH500系(xi)列 功(gong)率半导体器件(jian)PIV测试(shi)系(xi)统
– 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量,满足准等温
测试条件。
– 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算。
– 脉宽*小低至200ns。
– 具有内部和外部同步能力。
– 脉冲时序设置和时域波形记录。
– 仪器设备可与socket&半自动探针台互联,进行封装以及晶
圆级芯片测试。
0592-5663715
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产品详情

– 提供(gong)固定静态偏置点(dian)进行(xing)窄脉冲动(dong)态IV测量,满足准等温

  测(ce)试条件。

– 实现(xian)器件(jian)寄(ji)生效应(ying)的量化测量与(yu)数据(ju)运算。

– 脉宽(kuan)*小低至(zhi)200ns。

– 具有内部(bu)和外部(bu)同步能(neng)力。

– 脉(mai)冲时(shi)序设置和时(shi)域波形记录。

– 仪(yi)器设备可(ke)与socket&半自动探针台互联(lian),进行封装以及晶

圆级芯片测试。


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