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– 提供固定静态偏置点进行窄(zhai)脉冲(chong)动态IV测量,满足(zu)准等温
测(ce)试条件。
– 实现器件寄生(sheng)效应的量化测量与数据运算(suan)。
– 脉宽*小低至200ns。
– 具有内部和外部同步(bu)能力。
– 脉冲(chong)时序设置和时域波形(xing)记录。
– 仪(yi)器设备可与socket&半自动探针(zhen)台互联,进行封装以(yi)及晶(jing)
圆级(ji)芯(xin)片测试。
– 提供(gong)固定静态偏置点(dian)进行(xing)窄脉冲动(dong)态IV测量,满足准等温
测(ce)试条件。
– 实现(xian)器件(jian)寄(ji)生效应(ying)的量化测量与(yu)数据(ju)运算。
– 脉宽(kuan)*小低至(zhi)200ns。
– 具有内部(bu)和外部(bu)同步能(neng)力。
– 脉(mai)冲时(shi)序设置和时(shi)域波形记录。
– 仪(yi)器设备可(ke)与socket&半自动探针台互联(lian),进行封装以及晶
圆级芯片测试。
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