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FEl Talos™ F200X扫描/透射(she)电子(zi)显微镜(S/TEM) 可提供*快、*准确(que)且(qie)量化的多维度纳米材料表征。
FEl Talos F200X 的(de)创新功能(neng)可(ke)提高通量(liang)、精度与易用性,非常适合学术界、**和(he)工业研究(jiu)(jiu)环境(jing)中的(de)高级研究(jiu)(jiu)与分析(xi)。
产品特点:
●更好的图像数据:
配备同步(bu)多重(zhong)信号检测的(de)高通量STEM 成像可实(shi)现(xian)更(geng)好的(de)对比度(du),
●从而可提(ti)供高(gao)质量图像
更短的化学(xue)成分数据生成时(shi)间:
快速、精确(que)且量化(hua)的 EDS 分析(xi) 可(ke)揭示纳米(mi)级细节
●为扩(kuo)大应用提供空间:
添加特(te)定于(yu)应用的原位样品杆以开展(zhan)动态(tai)实验(yan)
●更高的稳定性:
采用仪(yi)器(qi)罩和(he)远程操作来提高环境***
FEl Talos™ F200X扫描(miao)/透(tou)射电子显(xian)微镜(S/TEM) 可(ke)提供(gong)*快、*准确且(qie)量化的多维度纳米(mi)材料表征。
FEl Talos F200X 的(de)创新功(gong)能可提高(gao)通(tong)量、精(jing)度(du)与(yu)易用(yong)性,非常适(shi)合(he)学(xue)术界、**和工业研究环境中的(de)高(gao)级研究与(yu)分析。
产品特点:
●更好的图像数据:
配(pei)备同步多重信号检测的高通量(liang)STEM 成像可(ke)实现更(geng)好的对比度,
●从而可提供高(gao)质量图像
更短的化学成(cheng)(cheng)分(fen)数据生成(cheng)(cheng)时间:
快速、精确且量化的 EDS 分析 可揭示(shi)纳(na)米(mi)级细节
●为(wei)扩大应用提(ti)供空间(jian):
添加(jia)特(te)定于应用的原位样品杆以开展(zhan)动态实验(yan)
●更高的稳定性:
采(cai)用仪器(qi)罩和远程操作来提高环境***
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